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育仰YUY-28L数电模电EDA综合实验系统 金属

育仰YUY-28L数电模电EDA综合实验系统 金属

该实验装置具有安全、稳定、可读、可调整、直观、灵活和新型等特点,操作简单方便,装置运行可靠。具有很强的二次开发功能。

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    上海 上海 嘉定区 鹤旋路26弄22号
品牌:育仰类别:教学实验箱材质:金属
规格:510mm*330mm*100mm

育仰YUY-28L数电模电EDA综合实验系统 金属详细介绍

YUY-28L数电模电EDA综合实验系统

数电-模电-EDA综合实验系统

数电模电综合实验系统能够完成“电路基础”、“模拟电子技术”、“数字电子技术”、“ISP在系统编程EDA实验”、“VHDL设计”、“电子系统综合设计”等课程的实验。在实验方式上采用全新理念,保留了***的传统基础功能模块验证性实验,增加了对中大规模复杂系统的设计、分析和管理实验,为学生提供了二次开发的良好环境,加强了学生对系统设计概念的培养和实践,以适应电子系统日趋数字化、复杂化和大规模集成化发展的需要,真正做到学用结合,为创新性人才的培养打下良好基础。
一、系统特点:
该实验装置具有安全、稳定、可读、可调整、直观、灵活和新型等特点,操作简单方便,装置运行可靠。具有很强的二次开发功能。
1、安全性
人员安全的保护:不论实验装置在正常工作或故障状态下,不会危及操作人员的人身安全。
对误操作的保护:不会因为误操作而导致实验装置损坏。
电源的过流保护:因短路等故障而过流时,可自动切断实验装置电源。
电源的电压保护:电源电压过高或欠压时,将自动切断实验装置电源。
2、直观性
实验装置功能模块的主要电气原理或特征将在面板或电路卡上指示,实验装置各功能引脚的符号标注在面板上。
3、灵活性
实验装置采用主板和各模块分离的设计,可编程器件焊接在独立模块上。通过选择模块可以选择不同厂家、不同型号、不同规模的可编程器件,既可适应不同的教学需要,也使系统的功能和规模扩展变得更为方便。
为了方便实验操作,减少对实验仪器仪表的依赖,实验装置主板上各部分功能模块(包括一些基本功能模块和实验小工具)几乎都是相互独立的,可以根据需要选择模块进行接线。
实验装置提供扩展集成插座、面包板和部分必须的分立元件等,留有足够的接线机会,也给实验装置留有足够的机动灵活性。
4、新颖性
实验装置提供了逻辑可编程实验平台和模拟可编程实验平台,其中逻辑可编程实验平台包括CPLD/FPGA模块,模拟可编程实验平台包括ispPAC模块。不同模块使用不同的芯片,根据需要可选择不同功能芯片的模块插接到实验主板上。
二、技术指标
(一)数字电路功能单元
1、4×4矩阵键盘:矩阵式结构,组合按键。
2、8位乒乓开关:开关量输入。
3、十六进制8421拨码盘:提供0~9,A~F 十六进制编码值。
4、24位开关量输出:发光二极管红、黄、绿色三组各八只高亮度发光二极管,含电流驱动。
5、6位LED显示:7段数码管静态显示方式6位,动态显示方式1-6位均可,含电流驱动。
6、有源晶振:4MHz标准时钟,通过模块跳线器选择,向可编程器件的CLK1提供时钟。
7、可编程脉冲序列发生器:由555振荡器构成频率可调、脉冲数可设置的脉冲序列发生电路。
8、单脉冲发生器:提供加消抖处理单个±脉冲输入。
9、逻辑笔:可测量逻辑高低电平、高阻和脉冲状态。
(二)模拟电路功能单元
1、模拟电路模块接入区:可接入各种模拟电路实验模块
2、波形发生器单元
输出波形:方波、三角波、正弦波
幅值:正弦波:0~14V(14V为峰-峰值,且正负对称)
三角波:0~24V(24V为峰-峰值,且正负对称)
方波:0~24V(24V为峰-峰值,且正负对称)
频率范围:分四档2HZ~20HZ、20HZ~200HZ、200HZ~4KHZ、4KHZ~100KHZ
3、直流信号源单元:双路±5V、±0.5V、两档连续可调。
4、3位半数字电压表:测量范围:-19.99V~+19.99V
(三)EDA实验功能单元
1、由数字电路功能单元、模拟电路功能单元共同组成。
2、可编程器件模块(根据要求选择)
(四)扩展实验模块区
1、集成电路扩展插座:可插实验用IC芯片或ispPAC模块。
2、面包板单元。 
三、实验内容:
(一)数字部分基本实验:
(1)门电路逻辑功能及测试;
(2)组合逻辑电路(半/全加器);
(3)R-S、D、JK4、触发器;
(4)三态输出触发器、锁存器;
(5)集成计数器及寄存器;
(6)时序电路测试及研究;
(7)译码器和数据选择器;
(8)波形发生及单稳态触发器;
(9)555时基电路
可选做如下实验:
(10)CMOS门电路测试;
(11)门电路的驱动能力测试;
(12)MSI加法器实验;
(13)寄存器及其应用实验;
(14)顺序脉冲和脉冲分配器电路;
(15)多路模拟开关及其应用实验;
(16)四路优先判决电路实验;
(17)TS、OC门的功能测试及其应用实验;
(18)逻辑笔实验与分析实验;
(19)竞争冒险实验;
(20)计数器MSI芯片的应用;
(21)施密特触发器及其应用实验;
(22)数字定时器实验;
(23)电子校音器实验;
(24)TTL不同系列芯片性能和参数的测定实验;
(25)TTL与CMOS相互连接实验;
(26)触发器应用实验;
(27)时序电路应用实验;
(28)单稳态触发器及其应用实验;
(29)电压变换器实验;
(30)示波器多踪显示接口实验
(二)模拟部分实验内容:
(1)分立元件电路实验
1、基本单级放大电路;
2、两级放大电路;
3、负反馈放大电路;
4、射级跟随器;
5、差动放大电路;
6、比例求和运算放大电路;
(2)集成运算放大电路
7、模拟运算电路
①电压跟随器
②反向比例放大器
③同相比例放大器
④反相求和比例放大器
⑤双端输入求和放大电路;
8、积分与微分电路
①积分电路
②微分电路
③微积分电路;
9、波形发生电路
①方波发生器
②占空比可调的矩形波发生器
③三角波发生电路
④锯齿波发生电路;
10、有源滤波器
①低通滤波器
②高通滤波器
③带阻滤波器;
11、电压比较器
①过零比较器
②反相滞回比较器
③同相滞回比较器;
(3)其它实验
12、集成电路RC正弦波振荡;
 


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